High Speed Signal Design, Test and Analysis

Signal & Power Integrity in the Real World

• Test Frequency Range: >40GHz (40GHz 이상  주문제작 가능)
• DUT Length: 1mm ~ 20mm
• Test Mode: Single end, Differential, 2 port and 4 port
• Test pins configuration: Single end SG, GS, GSG, etc.  Differential GSSG, SS, etc. (특수사양 주문 제작 가능)
• 정확한 측정결과를 위해 ISD de-embedding tool과 함께 사용
• Port connector type; 1.85mm female 또는 2.92mm female
• 레버를 이용한 간편한 DUT 교체

Application

특징 및 사양

측정 셋업 예시.

Network Analyzer 4 port로 S-parameter를 측정하기 위해 설치된 픽스쳐 모습.

2 port Single end나 4 port Differential 측정이 가능하다.

High Frequency, High Speed signal용 IC 소켓이나 Pogo pin, Coaxial pin 등의 S-parameter와 임피던스를 테스트 하기 위한 픽스쳐로 40GHz 또는 그 이상의 대역에서 측정할 수 있도록 설계 제작되었습니다. 측정 주파수는 주문시 가변 가능합니다.

측정 결과 예시

40GHz까지의 4 port Differential Sdd21 측정 결과. 

Test Cable end에서 Calibration 된 VNA의 측정결과(검정색)와 테스트 픽스쳐의 Sdd21(빨간색), 그리고 최종적으로 픽스쳐가 제거(De-embedding)된 pogo pins의 Sdd21(파란색)을 볼 수 있다.

이 pogo pins은 해당 셋업에서 38GHz 까지 -1dB 이내의 손실을 보여주고 있다.

High Frequency Test Fixture for IC socket and Pins

Model: TBS-HFTF-POGO-1

• Pogo, Coaxial pin 등 IC socket용 contact의 S-parameter, Impedance 등 측정

픽스쳐 de-embedding 

정확한 고주파 측정 결과를 확보하기 위해서는 픽스쳐나 테스트 보드의 Lead-in/out 부분의 삽입/반사 손실을 정확히 제거해 주어야 한다. 일반적으로 VNA 는 케이블의 끝에서 정확한 Calibration을 할 수 있기 때문이다. 

이 픽스쳐는 가장 정확한 방식인 ISD software와 함께 사용하도록 최적화 설계되었다.

ISD 설명 동영상 보기(S-parameter에서 Fixture나 Probe의 영향 제거하기)